ウエハー加工・生産受託・マイクロ流路・ファクトリーオートメーションの九州セミコンダクターKAW
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X線検査

X線透視検査

半導体やICチップの内部を、X線検査により透過観察が出来ます。表面からは見えないボンディングワイヤのループ形状、チップなどの不良検査がリードフレームやテーピング済リール状態でも行えます。また、安定温度の環境で測定が可能となっております。

X線透視検査

X線透視検査

 

スペック

SMX-1000/SMX-1000L

・搭載可能サイズ570㎜×670㎜ 最大60度の斜め透視可能。
・トレー・シェイプ・リールの全てでステップ送りができます。
・大型ステージによりシェイプ及びリールも本機内に装着できます。

 

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