X線検査
X線透視検査
半導体やICチップの内部を、X線検査により透過観察が出来ます。表面からは見えないボンディングワイヤのループ形状、チップなどの不良検査がリードフレームやテーピング済リール状態でも行えます。また、安定温度の環境で測定が可能となっております。

X線透視検査
スペック |
|
SMX-1000/SMX-1000L |
・搭載可能サイズ570㎜×670㎜ 最大60度の斜め透視可能。 |
半導体やICチップの内部を、X線検査により透過観察が出来ます。表面からは見えないボンディングワイヤのループ形状、チップなどの不良検査がリードフレームやテーピング済リール状態でも行えます。また、安定温度の環境で測定が可能となっております。
X線透視検査
スペック |
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SMX-1000/SMX-1000L |
・搭載可能サイズ570㎜×670㎜ 最大60度の斜め透視可能。 |